Fotometria, radiometria, színmérés, spektroradiometria, integráló gömbös és goniofotometriai mérések, valamint LMK jellegű képalkotó rendszerek metrológiája.
A teljes kamera–objektív–szoftver rendszer metrológiája, különös tekintettel a térbeli, spektrális és nagy kontrasztú hibákra.
A kamera, az objektív, a szűrőrendszer, a képfeldolgozás és a kalibrációs fájl együtt alkotja a mérőrendszert. A fejezet megmutatja, hol keletkeznek a domináns metrológiai hibák.
Fejezet megnyitása →A pixelérzékenység, a sötétjel és a lokális detektorhibák térképezése nélkül a fénysűrűségkép látszólag részletes, de metrológiailag torz lehet.
Fejezet megnyitása →Az objektív geometriai és radiometriai hibái közvetlenül módosítják a mért fénysűrűségeloszlást, a területet és a szögkoordinátákat.
Fejezet megnyitása →A képalkotó fotométer fotometriai pontossága erősen függ attól, mennyire illeszkedik a rendszer spektrális válasza az emberi szem V(λ) függvényéhez.
Fejezet megnyitása →A több expozícióból összeállított HDR kép nagy dinamikát ígér, de csak akkor metrológiai eredmény, ha az expozíciós tartományok kapcsolata validált.
Fejezet megnyitása →A nagy kontrasztú képekben az objektív és a kamera belső szórt fénye gyakran nagyobb hibát okoz, mint a radiometriai skála bizonytalansága.
Fejezet megnyitása →A képi mérés eredménye attól is függ, mely pixeleket és milyen geometriai szabállyal vonunk be a kiértékelésbe.
Fejezet megnyitása →A teljes kamera–objektív–szoftver rendszer kalibrálásához radiometriai, spektrális, térbeli és geometriai komponenseket kell egyetlen mérési modellbe rendezni.
Fejezet megnyitása →UV-A, UV-B és UV-C kalibrálás spektrális, geometriai és időbeli modellje.
Modul megnyitása →Tizenkét egymásra épülő tanulmány az SI candelától a fotometriai alapokon át a spektroradiométerek kalibrálásáig, bizonytalanságáig és auditjáig.
Átfogó mérnöki útmutató a radiometriai és fotometriai mennyiségektől az SI-visszavezethetőségen át a spektroradiométerekig és képalkotó fénysűrűségmérőkig.
Mesterkurzus megnyitása → mesterkurzus · 2. fejezetDetektorok, referenciaforrások, geometria, spektrális korrekciók és közbenső ellenőrzések egységes kezelése ISO/IEC 17025 laboratóriumban.
Mesterkurzus megnyitása → mesterkurzus · 3. fejezetFényáram, fényerősség, megvilágítás és fénysűrűség helyes kiválasztása, geometriája és laboratóriumi értelmezése.
Mesterkurzus megnyitása → mesterkurzus · 4. fejezetMonokromátorok, tömbdetektorok, hullámhosszskála, sávszélesség, stray light, linearitás és integrációs idő részletes metrológiai elemzése.
Mesterkurzus megnyitása → mesterkurzus · 5. fejezetEmissziós vonalak, csúcsillesztés, interpoláció, hőmérsékleti drift és a hullámhosszskála bizonytalanságának részletes laboratóriumi kezelése.
Mesterkurzus megnyitása → mesterkurzus · 6. fejezetA spektrális felbontás, a mintavételi lépés és a műszer vonalalakjának hatása LED-ek, lézerek és szélessávú források mérésére.
Mesterkurzus megnyitása → mesterkurzus · 7. fejezetSzórt fény, csatornaáthallás és spektrális szennyezés vizsgálata vágószűrőkkel, keskenysávú forrásokkal és validált korrekciókkal.
Mesterkurzus megnyitása → mesterkurzus · 8. fejezetIntegrációs idő, gain, telítődés, additív linearitásvizsgálat és tartományváltási hibák kezelése több nagyságrenden.
Mesterkurzus megnyitása → mesterkurzus · 9. fejezetA sötétáram, kiolvasási zaj, maradékjel, előtörténet és átlagolás hatása gyenge optikai jelek spektrális mérésére.
Mesterkurzus megnyitása → mesterkurzus · 10. fejezetReferenciaforrások, detektoralapú visszavezethetőség, geometriai csatolás és rendszerkalibráció spektroradiométereknél.
Mesterkurzus megnyitása → mesterkurzus · 11. fejezetHullámhossz, radiometriai érzékenység, stray light, linearitás, geometria és kovariancia egységes GUM-szemléletű kezelése.
Mesterkurzus megnyitása → mesterkurzus · 12. fejezetKomplex ellenőrzési program hullámhosszra, linearitásra, stray lightra, radiometriai skálára és konfigurációkezelésre.
Mesterkurzus megnyitása →SzínmetrológiaEtalonok, geometria, spektrális és fotometriai skála, valamint L*a*b* és ΔE bizonytalanság.
Tanulmány megnyitása →A fizikai sugárzási mennyiségek és az emberi látásra súlyozott fotometriai mennyiségek közötti különbségek.
Tanulmány megnyitása →Optikai metrológiaA megvilágításmérők érzékenysége, koszinuszkorrekciója, spektrális illesztése és kalibrálási stratégiája.
Tanulmány megnyitása →Optikai metrológiaA látómező, fókusz, célfelület, távolság és spektrális érzékenység szerepe a cd/m² mérésében.
Tanulmány megnyitása →Optikai metrológiaKamerás fénysűrűségmérők kalibrálása, geometriai leképezése, pixelválasza és mérési bizonytalansága.
Tanulmány megnyitása →Optikai metrológiaHullámhosszskála, spektrális sávszélesség, radiometriai érzékenység, szórt fény és linearitás.
Tanulmány megnyitása →Optikai metrológiaAz XYZ tristimulus rendszer, kromaticitási koordináták, korrelált színhőmérséklet és színkülönbség.
Tanulmány megnyitása →Optikai metrológiaA teljes fényáram mérésének geometriája, önelnyelés-korrekciója, spektrális kalibrálása és bizonytalansága.
Tanulmány megnyitása →Optikai metrológiaFényerősség-eloszlás, koordinátarendszerek, tengelybeállítás, távolság és far-field feltételek.
Tanulmány megnyitása →Optikai metrológiaA detektor, az erősítő és a tartományváltás vizsgálata több nagyságrenden keresztül.
Tanulmány megnyitása →Optikai metrológiaReferencia-síkok, térszög, látómező, inverz négyzetes törvény és geometriai reprodukálhatóság.
Tanulmány megnyitása →Referencia-fénysűrűség, látómező, spektrális illesztetlenség, pixeluniformitás, vignettálás, szórt fény és ROI.
Spektrális kovariancia, x,y és u′,v′ transzformáció, CCT, Duv és Monte Carlo propagálás.
Tanulmány megnyitása →Haladó színmetrológiaRa, egyedi Ri, Rf és Rg propagálása teljes spektrális kovarianciával és Monte Carlo módszerrel.
Tanulmány megnyitása →