Ipari metrológiai tudásplatform
LightingLab Expert Center · hibakeresés

Optikai mérőműszerek hibakeresési útmutatója

Drift, szokatlan spektrum, instabil eredmény és eltérő műszerek szisztematikus kivizsgálása találgatás helyett.

Drift, szokatlan spektrum, instabil eredmény és eltérő műszerek szisztematikus kivizsgálása találgatás helyett.

Első lépés: a mérési feladat rögzítése

A hibakeresés előtt rögzíteni kell a mérendő mennyiséget, a forrást, a geometriát, a műszerkonfigurációt, a szoftververziót, az integrációs időt, a környezetet és a korábbi eredményt. Enélkül az ismételt mérés csak újabb, nem összehasonlítható adatot termel.

Instabil eredmény

Az instabilitás lehetséges forrása maga a fényforrás, a bemelegedés, az automatikus tartományváltás, a környezeti fény, a mechanikai elmozdulás vagy a műszer hőmérséklete. A műszer és a forrás különválasztásához stabil ellenőrző forrás vagy másodlagos műszer szükséges.

Két műszer eltérő eredménye

Az eltérés nem bizonyítja automatikusan egyik műszer hibáját sem. Ellenőrizni kell a spektrális illesztést, a látómezőt, a térbeli átlagolást, a polarizációt, a mérési távolságot, a spektrális sávszélességet és azt, hogy azonos mennyiséget számítanak-e.

Szokatlan spektrum vagy színkoordináta

Elsőként a sötétmérést, a telítést, a hullámhosszskálát, az optikai csatlakozást és a korrekciós fájlt kell ellenőrizni. Éles spektrális csúcsok eltolódása hullámhosszhibára, széles alapszint szórt fényre vagy háttérfényre, hullámos alak optikai interferenciára is utalhat.

Mikor kell újrakalibrálni?

Újrakalibrálás indokolt lehet ütés, javítás, optikai alkatrészcsere, tartós trendeltérés, sikertelen közbenső ellenőrzés vagy konfigurációvesztés után. A döntést hatásvizsgálattal kell összekötni: mely korábbi eredmények lehetnek érintettek, és szükséges-e ügyfélértesítés vagy ismételt mérés.

Metrológiai alapelv: a kalibrálás eredménye csak a dokumentált mérési módra, tartományra, geometriára, beállításokra és környezeti feltételekre értelmezhető.
Helye a tudásrendszerben

Innen érdemes továbbhaladni

Optikai metrológia áttekintése →
Alapozó szint2 perc becsült olvasás5 fejezet