Ipari metrológiai tudásplatform
LightingLab Expert Center · nagysebességű spektroradiometria

CAS 140D és tömbdetektoros spektroradiométerek metrológiája

Tömbdetektor, sötétjel, szórt fény, spektrális linearitás és mérési tartományok összetett értékelése.

Tömbdetektor, sötétjel, szórt fény, spektrális linearitás és mérési tartományok összetett értékelése.

A tömbdetektor sajátossága

A tömbdetektoros rendszer a teljes spektrumot egy expozícióban rögzíti, ami gyors és reprodukálható mérést tesz lehetővé. Ugyanakkor a pixelenkénti érzékenység, a hőmérséklet, a sötétjel és a lokális telítés olyan hatásokat hoz létre, amelyek eltérnek a pásztázó monokromátoros műszerekétől.

Sötétjel és expozíciós stratégia

A sötétkorrekció idő- és hőmérsékletfüggő lehet. Rövid és hosszú integrációs idők, automatikus expozíció, többszörös expozíció vagy HDR-mód esetén külön kell ellenőrizni, hogy a tartományok folytonosan illeszkednek-e, és nincs-e rejtett telítés.

Szórt fény és erős spektrális vonalak

Keskenysávú, nagy intenzitású források a szomszédos pixeleken és az optikai rendszerben szóródást okozhatnak. Ez különösen UV- vagy kékkomponens mellett vezethet a gyenge tartományok felülbecsléséhez. A szórt fény hatása nem következtethető pusztán a hullámhosszpontosságból.

Spektrális és radiometriai linearitás

A linearitás vizsgálatának le kell fednie a tényleges jelszinteket és integrációs időket. A különböző pixelek viselkedése nem feltétlenül azonos, ezért a teljesítményt reprezentatív hullámhosszakon és eltérő spektrális eloszlásokkal érdemes értékelni.

Alkalmazásspecifikus validálás

LED-modulok, kijelzők, autóipari fényforrások vagy időben változó jelek mérése eltérő követelményt támaszt. A kalibrálási eredmény mellett a triggerelés, mérési idő, optikai bemenet és szoftveres kiértékelés alkalmazásspecifikus validálása is szükséges.

Metrológiai alapelv: a kalibrálás eredménye csak a dokumentált mérési módra, tartományra, geometriára, beállításokra és környezeti feltételekre értelmezhető.
Helye a tudásrendszerben

Innen érdemes továbbhaladni

Optikai metrológia áttekintése →
Alapozó szint1 perc becsült olvasás5 fejezet